发布时间：2013-09-05 08:45:21点击数：2021次
磁性法测厚受基体金属磁性变化的影响(在实际应用中，低碳钢磁性的变化可以认为是轻微的)，为了避免热处理和冷加工因素的影响，应使用与试件基体金属具有相同性质的标准片对仪器进行校准;亦可用待涂覆试件进行校准。
基体金属的电导率对测量有影响，而基体金属的电导率与其材料成分及热处理方法有关。使用与试件基体金属具有相同性质的标准片对仪器进行校准。
每一种仪器都有一个基体金属的临界厚度。大于这个厚度，测量就不受基体金属厚度的影响。本仪器的临界厚度值见附表1。
本仪器对试件表面形状的陡变敏感。因此在靠近试件边缘或内转角处进行测量是不可靠的。
试件的曲率对测量有影响。这种影响总是随着曲率半径的减少明显地增大。因此，在弯曲试件的表面上测量是不可靠的。
影响测量精度的因素测头会使软覆盖层试件变形，因此在这些试件上测出可靠的数据。
基体金属和覆盖层的表面粗糙程度对测量有影响。粗糙程度增大，影响增大。粗糙表面会引起系统误差和偶然误差，每次测量时，在不同位置上应增加测量的次数，以克服这种偶然误差。如果基体金属粗糙，还必须在未涂覆的粗糙度相类似的基体金属试件上取几个位置校对仪器的零点;或用对基体金属没有腐蚀的溶液溶解除去覆盖层后，再校对仪器的零点。
周围各种电气设备所产生的强磁场，会严重地干扰磁性法测厚工作。
本仪器对那些妨碍测头与覆盖层表面紧密接触的附着物质敏感，因此，必须清除附着物质，以保证仪器测头和被测试件表面直接接触。
测头置于试件上所施加的压力大小会影响测量的读数，因此，要保持压力恒定。
测头的放置方式对测量有影响。在测量中，应当使测头与试样表面保持垂直。
微米是长度单位，符号 [micron]，读作[mi
光栅分为3D立体光栅,光栅尺,安全光栅,复制光栅,
冷加工与热加工的区别是什么?冷加工通常指金属的切削加工
光学冷加工工艺 第1道：铣磨，是去除镜片表面凹
ps滤镜怎么安装?滤镜主要是用来实现图像的各种特殊效果
光密度（OD）[optical density]定义
滤光片主要特点是尺寸可做得相当大。薄膜滤光片，又分
减反射膜又称增透膜、AR膜、AR片、减反射膜、AR
虹膜特征 眼睛的虹膜是由相当复
相信了解偏振镜的朋友都知道其偏振镜的作用，但是文字的说
